Bruker-AXS D8-GADDS (θ-θ Diffraktometer)

Charakteristika

(1)    Incoatec Mikrofokus-Röntgenröhre
(2)    Probentisch mit xyz-Tisch auf ¼ Eulerwiege
(3)    Vantec 2000 Halbleiterdetektor
(4)    Video-Justiersystem mit Laser (5)

• Geometrie: Θ/Θ- Diffraktometer; Parallelstrahl
• Anode: Cu Mikrofokus-Röntgenquelle
• Monochromatisierung: Montelspiegel
• Strahlgrößen: 2x2 mm², ∅1, 0.5, 0.3, 0.08 mm²
• Abstand Anode-Probe (AP): 100 - 300 mm
• Abstand Probe-Detektor (PD): 100 – 300 mm
• Probenbewegung: ¼ Eulerwiege; xyz-Tisch (Tragfähigkeit 2 kg)
• Probenjustierung: Video-Justiersystem mit Laser
• Detektor: Vantec 2000 (Winkelbereich 2θ= 32°, ψ= 63° bei PD= 220 mm)

Non-ambient

• Lastrahmen (geplant)
    
   
  
  
  

Anwendungen

• Qualitative/quantitative Phasenanalysen (z.B. Korrosions-Produkte, Restaustenitanalysen)
• Spannungsanalyse (Bulk- und Dünnfilmproben)
• Texturanalyse (Bulk- und Dünnfilmproben
• Mikrodiffraction (bis Strahlgrößen > 80 μm)
• „Reciprocal Space Mapping“ Dünnfilmen

XPERT III: PANalytical XPert Pro MPD (θ-θ Diffraktometer)

Charakteristika

(1)    Röntgenröhre
(2)    Probenposition mit Heizkammer (HTK 1200, Anton Paar)
(3)    a: X’Celerator Detektor mit 2.1° Überdeckung b: Proportionaldetektor (0D) mit Graphit-monochromator (4), (5)    Automatische Strahlblenden

• Geometrie: Θ/Θ- Diffraktometer; Bragg-Brentano
• Anode: Cu -Röntgenquelle
• Monochromatisierung: a) Ni-Filter; b) Sekundärmonochromator Graphit
• Strahlgrößen: variable Strahlblenden (primär/sekundär automatisch)
• Abstand Anode-Probe (AP): 240 mm
• Abstand Probe-Detektor (PD): 240 mm
• Probenbewegung: Spinner ohne Probenumgebung; fix für Probenumgebung
• Detektor: a) X’ Celerator Halbleiterdetektor (2.1°); b) Szintillationsdetektor (0D)

Non-ambient

• Closed-Cycle Kryostat (11K > T < 310 K)
• Anton Paar HTK 1200 N (T < 1200°C); Luft, Stickstoff-Atmosphäre
• Anton Paar XRK 900 Reaktionskammer (P < 10bar; T < 900°C); Gasatmosphären (Ar, H₂, CO, CO₂, Mischungen)
• Anton Paar TTK450 Kammer (100K > T < 470K)

Anwendungen

• Qualitative/quantitative Phasenanalyse kristalliner Anteile
• Amorphe Phasenanteile
• Kristallitgrößen
• Restaustenitanalyse

XPERT II: PANalytical XPert Pro MPD (θ-θ Diffraktometer)

Charakteristika

(1)    Röntgenröhre
(2)    Probenposition mit Spinner
(3)    Automatische Strahlblenden

• Geometrie: Θ/Θ - Diffraktometer; Bragg-Brentano
• Anode: Cu - Röntgenquelle
• Monochromatisierung: a) Ni-Filter; b) Sekundärmonochromator Graphit
• Strahlgrößen: variable Strahlblenden (primär/sekundär automatisch)
• Abstand Anode-Probe (AP): 240 mm
• Abstand Probe-Detektor (PD): 240 mm
• Probenbewegung: Spinner ohne Probenumgebung
• Probenwechsler für 15 Proben
• Detektor: a) X’Celerator Halbleiterdetektor (2.1°); b) alternativ Proportionalzähler (0D) mit Graphitmonochromator

keine Option für non-ambient Messungen

  

 
 

Anwendungen

• Qualitative/quantitative Phasenanalysen unter ambient Bedingungen (z.B. Routinemessungen zur Synthesekontrolle)
• Reflexionsmessungen/Transmissionsmessungen

Empyrean PANalytical  θ-θ Diffraktometer

Charakteristika

(1)    Röntgenröhre
(2)    Probenposition
(3)    (a) PIXCel- Detektor mit 3D Überdeckung; (b) Szintillationsdetektor (0D) für Ag-Strahlungsoption
(4)    Automatische Strahlblenden
(5)    Probenwechsler für 45 Proben

• Geometrie: Θ/Θ - Diffraktometer; Bragg-Brentano (fokussierender Spiegel; Cu(K_alpha1,2)), Parallelstrahlgeometrie (Spiegel; Cu(K_alpha1,2)), Channel-Cut Monochromator (CuK_alpha1), GID; Kapillar- /reflexions- und Transmissionsgeometrie
• Anode: Cu/Mo/Ag - Röntgenquelle
• Monochromatisierung: a) Filter (Cu, Mo, Ag); b) Spiegel (Parallelgeometrie; Fokussierend für Cu-Anode)
• Strahlgrößen: variable Strahlblenden (primär/sekundär automatisch)
• Abstand Anode-Probe (AP):240 mm
• Abstand Probe-Detektor (PD):240 mm
• Probenbewegung: Spinner ohne Probenumgebung; fix für Probenumgebung
• Kipptisch für Spannungs- und Texturmessungen
• Aufbau für GID-messungen an dünnen Schichten
• Reflektometeraufsatz
• Detektor: a) PIXCel 3D Halbleiterdetektor; b) Szintillationsdetektor (0D) für Ag- Strahlung

Non-ambient

Anwendungen

• Qualitative/quantitative Phasenanalyse kristalliner Anteile
• Amorphe Phasenanteile, Kristallitgrößen, etc.
• Spannung-/Texturmessungen
• Reflektometriemessungen
• GID- Messungen an dünnen Schichten
• Messungen für PD-Analyse

Bruker KAPPA APEX II Einkristalldiffraktometer

Charakteristika

(1) Röntgenröhre
(2) Kollimator
(3) 4-Kreis-Goniometer
(4) Probenkopf
(5) Detektor
(6) Kühlung/Heizung

• Geometrie: 4-Kreiser mit Kappa-Geomentrie
• Anode: Mo-Röntgenquelle
• Monochromatisierung: Graphit
• Strahlgröße: variable Kollimatoren, 0.4-0.8 mm
• Abstand Probe-Detektor: 36-180 mm
• 2D CCD Detektor

Non-ambient

• Kühlen bis 90 K und Heizen bis 450 K in trockener Sticktstoff-Atmosphäre
  
  

Anwendungen

Strukturaufklärung (Organik, Metallorganik und Anorganik)
Bestimmung der absoluten Konfiguration (Elemente ≥S)
Struktur-Funktionsbeziehungen (z.B. nichlinear optische Materialien)
Kristallographisch anspruchsvolle Probleme: Stapelfehlordnungen, Zwillinge, Modulation
Phasenübergänge (z.B. magnetische oder ferroelektrische Übergänge)

Bruker SMART APEX Einkristalldiffraktometer

Charakteristika

(1)    Röntgenröhre
(2)    Videosystem
(3)    3-Kreis-Goniometer
(4)    Probenkopf
(5)    CCD-Detektor
(6)    Probenkühlung (Cryostream: LN2)

• Geometrie: 3-Kreiser mit fixem Kappa-Winkel
• Anode: Mo-Röntgenquelle
• Monochromatisierung: Graphit
• Strahlgröße: 0.8 mm
• Abstand Probe-Detektor: 55 mm
• 2D CCD Detektor

Non-ambient

• Kühlen bis 90 K in trockener Sticktstoff-Atmosphäre

Anwendungen

• Routine-Strukturaufklärung (Organik, Metallorganik und Anorganik)